1、請檢查控(kong)制面板(ban)的超(chao)溫(wen)保(bao)護器是(shi)否設定在150℃的位置，

2、請檢查機(ji)房的循環馬達是否損(sun)壞(huai)沒有運轉，

3、請檢查是否溫度部(bu)分(fen)(fen)的(de)(de)固(gu)態(tai)繼(ji)電(dian)(dian)器燒毀短路。若(ruo)加熱(re)器未燒毀，制作高低溫試驗箱請使用(yong)三用(yong)電(dian)(dian)表交(jiao)流(liu)電(dian)(dian)壓(ya)檔，電(dian)(dian)壓(ya)檔位開到(dao)600伏特的(de)(de)位置，將(jiang)紅黑棒分(fen)(fen)別放在線號(hao)標注為T的(de)(de)那一(yi)顆固(gu)態(tai)繼(ji)電(dian)(dian)器交(jiao)流(liu)兩側(ce)，將(jiang)濕(shi)度部(bu)分(fen)(fen)的(de)(de)溫度設定值設置0℃，此時溫度部(bu)分(fen)(fen)的(de)(de)固(gu)態(tai)繼(ji)電(dian)(dian)器的(de)(de)指示燈(deng)不(bu)會亮(liang)起，若(ruo)量(liang)測的(de)(de)電(dian)(dian)壓(ya)值沒有變化，維持在10V以(yi)下代(dai)表固(gu)態(tai)繼(ji)電(dian)(dian)器燒毀呈現(xian)短路狀態(tai)。

1、高低溫試驗箱的溫控儀表采用進口儀表，帶PID調節、SSR輸出(chu)，快速(su)自整(zheng)定，數字式顯示，讀數方便。2、箱門與(yu)工作室、外殼(ke)設有耐高溫密封條及壓緊裝置，有效的保證箱體的密封性(xing)和保溫性(xing)能。3、制(zhi)冷系統選用法國“泰康"原裝(zhuang)全(quan)封(feng)閉(bi)壓(ya)縮機，確(que)保(bao)高低(di)溫試驗(yan)箱的低(di)溫穩(wen)定性。高(gao)低(di)溫試驗箱的日常維護(hu)和對主要技術指標的簡易(yi)測(ce)試，能夠(gou)保證高(gao)低(di)溫試驗箱的工作處于最佳狀態(tai)。4、有超溫(wen)保(bao)護及控(kong)制(zhi)回(hui)路(lu)過(guo)載保(bao)護、短路(lu)保(bao)護，使用安全(quan)可靠。5、工作室及試品架為不銹鋼(gang)材料(liao)，外箱體為優質冷(leng)軋板噴(pen)塑而(er)成，外形美(mei)觀。以(yi)下，是幾點有關高低溫試驗箱維護保養需要注(zhu)意(yi)的事項(xiang)：1、高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)的溫(wen)(wen)度(du)和(he)濕度(du)是影響儀器(qi)性(xing)能的重要因素(su)，制作高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)其可以(yi)引起機(ji)(ji)械部(bu)件的銹蝕(shi)，使金屬鏡(jing)面(mian)的光(guang)潔度(du)下(xia)降(jiang)，引起高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)機(ji)(ji)械部(bu)分(fen)的誤(wu)差或性(xing)能下(xia)降(jiang)；造成高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)光(guang)學(xue)部(bu)件如光(guang)柵(zha)、反射鏡(jing)、聚焦鏡(jing)等(deng)的鋁(lv)膜銹蝕(shi)，產生光(guang)能不足(zu)、雜散光(guang)、噪聲等(deng)，甚至儀器(qi)停止工作，從而(er)影響高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)的壽命，維護保(bao)養時應定期加以(yi)校正。2、高低(di)溫試驗箱工(gong)作環境中的(de)塵(chen)埃和腐蝕性(xing)氣體亦可以影(ying)響(xiang)機械(xie)系(xi)統的(de)靈(ling)活性(xing)、降低(di)各種限(xian)位(wei)開關、按鍵、光(guang)電偶合器的(de)可靠(kao)性(xing)，也是造成必須學部件鋁(lv)膜銹蝕的(de)原因之一。3、高低(di)溫試驗箱使用一定(ding)(ding)周(zhou)期后(hou)，內部會積累一定(ding)(ding)量的(de)(de)塵(chen)埃(ai)，最(zui)好由維修工程(cheng)(cheng)師或(huo)在工程(cheng)(cheng)師指導下(xia)定(ding)(ding)期開啟高低(di)溫試驗箱外(wai)罩對內部進(jin)行(xing)除塵(chen)工作，同時(shi)將(jiang)各發熱元件的(de)(de)散熱器重(zhong)新緊固，對光學盒的(de)(de)密封窗口進(jin)行(xing)清潔，必(bi)要(yao)時(shi)對其進(jin)行(xing)校(xiao)準，對機械部分進(jin)行(xing)清潔和必(bi)要(yao)的(de)(de)潤滑，最(zui)后(hou)恢(hui)復原狀，再進(jin)行(xing)一些必(bi)要(yao)的(de)(de)檢(jian)測(ce)、調校(xiao)與記錄。高(gao)低(di)(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗箱是(shi)模擬自然高(gao)低(di)(di)溫變化(hua)環境，廣泛應用(yong)于對(dui)電(dian)子，制作高(gao)低(di)(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗箱電(dian)工產(chan)品(pin)及(ji)其他產(chan)品(pin)零部件材料(liao)在使用(yong)儲運過程中對(dui)溫度環境的適應性(xing)的試(shi)(shi)(shi)驗。特(te)別是(shi)電(dian)氣(qi)性(xing)能個機械性(xing)能的變化(hua).A：低(di)(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗方法(fa)(fa)、試(shi)(shi)(shi)驗B：高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)驗方法(fa)(fa)》對(dui)產(chan)品(pin)進行低(di)(di)溫及(ji)高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)驗。高低溫試(shi)驗箱采用(yong)先進的控溫(wen)方式(shi)(shi)——平衡(heng)式(shi)(shi)溫(wen)度調(diao)節方式(shi)(shi)，因而可(ke)自動(dong)獲得(de)由(you)高溫(wen)到低溫(wen)，或(huo)由(you)低溫(wen)到高溫(wen)時的可(ke)靠(kao)、精確的試驗溫(wen)度。步入式高低溫試驗箱儀表(biao)的(de)十個檢修方法步入式(shi)高(gao)低溫試驗箱檢修方法一：對比法具(ju)體(ti)方法是：讓(rang)有(you)故障(zhang)的儀(yi)表(biao)和正(zheng)常儀(yi)表(biao)在相同情(qing)況下運行，CLM高低溫交變濕熱試驗箱而(er)后檢測一些點的信號(hao)再比較所測的兩(liang)組信號(hao)，若有(you)不同，則可以斷定故障(zhang)出在這里。這種(zhong)方法要(yao)求維修人員具(ju)有(you)相當的知識和技能。要(yao)(yao)求有(you)兩(liang)臺(tai)(tai)同型號的儀(yi)表，并有(you)一臺(tai)(tai)是(shi)正(zheng)常(chang)運(yun)行的。制(zhi)作高(gao)低(di)溫試驗箱(xiang)使用這種方法還要(yao)(yao)具(ju)備必要(yao)(yao)的設備，例如，萬(wan)用表、示波器等。按比(bi)較的性質分有(you)，電壓比(bi)較、波形比(bi)較、靜(jing)態阻抗比(bi)較、輸出結果(guo)比(bi)較、電流(liu)比(bi)較等。方法(fa)二：電容(rong)旁路法(fa)當(dang)某一(yi)電(dian)路產生比(bi)較奇怪的(de)現象，例如顯示器混亂時(shi)，可(ke)以(yi)用電(dian)容(rong)旁路法(fa)確定(ding)大概出故障(zhang)的(de)電(dian)路部分。方法三：隔離(li)法故障(zhang)隔離法不需(xu)要相同(tong)型號的設(she)備或備件(jian)作比較，而且安全可靠。根據故障(zhang)檢(jian)測(ce)流程圖，分(fen)割包(bao)圍(wei)逐(zhu)步縮小故障(zhang)搜(sou)索范圍(wei)，再配合信號對比、部件(jian)交(jiao)換(huan)等方(fang)法，一般會很快查到故障(zhang)之(zhi)所在(zai)。方法四：敲擊(ji)法經(jing)常會遇到儀器(qi)運行時(shi)好時(shi)壞的現象，制(zhi)作高(gao)低溫試(shi)驗(yan)箱這(zhe)(zhe)種現象絕大多數(shu)是(shi)由(you)于接觸不(bu)良或虛焊造成的。對(dui)于這(zhe)(zhe)種情況可以采用(yong)敲擊與手壓(ya)法(fa)。所(suo)謂(wei)的(de)“敲(qiao)擊"就(jiu)是對可能產生故(gu)(gu)障(zhang)的(de)部(bu)位，通過小(xiao)橡皮鎯頭或其(qi)他敲(qiao)擊物輕輕敲(qiao)打(da)(da)插(cha)(cha)件(jian)板或部(bu)件(jian)，看看是否(fou)會(hui)引起出錯(cuo)或停機故(gu)(gu)障(zhang)。所(suo)謂(wei)“手(shou)壓(ya)"就(jiu)是在(zai)故(gu)(gu)障(zhang)出現(xian)時(shi)，關上電源后對插(cha)(cha)的(de)部(bu)件(jian)和插(cha)(cha)頭和座重(zhong)新用手(shou)壓(ya)牢，再(zai)開機試試是否(fou)會(hui)消除故(gu)(gu)障(zhang)。如果發現(xian)敲(qiao)打(da)(da)一(yi)下機殼正(zheng)(zheng)常(chang)，再(zai)敲(qiao)打(da)(da)又不正(zheng)(zheng)常(chang)時(shi)，最好先(xian)將所(suo)有(you)接頭重(zhong)插(cha)(cha)牢再(zai)試，若不成功，只好另想辦法了。方(fang)法(fa)五：狀態調整(zheng)法(fa)一(yi)般來說，在故障未(wei)確(que)定前(qian)，不要(yao)隨便觸動電路中的(de)元器件特別是可調整式器件更是如(ru)(ru)此，例(li)電位器等(deng)。但(dan)是如(ru)(ru)果無紙記錄(lu)儀事先(xian)采取復(fu)參(can)考措(cuo)施（例(li)如(ru)(ru)，在未(wei)觸動前(qian)先(xian)做好位置記號或(huo)測出電壓值或(huo)電阻值等(deng)），必(bi)要(yao)時(shi)還是允(yun)許觸動的(de)。也許改(gai)變之后有時(shi)故障會消除。IC的(de)電(dian)源和地端；對(dui)晶體管電(dian)路跨接在基極(ji)輸(shu)(shu)入(ru)端或集電(dian)極(ji)輸(shu)(shu)出(chu)端，觀察對(dui)故(gu)障(zhang)現(xian)象的(de)影(ying)響(xiang)。如果彩色無(wu)紙記錄儀電(dian)容旁路輸(shu)(shu)入(ru)端無(wu)效而旁路它的(de)輸(shu)(shu)出(chu)端時故(gu)障(zhang)現(xian)象消失，則(ze)確定故(gu)障(zhang)就(jiu)出(chu)現(xian)在這一級(ji)電(dian)路中。方法六：觀察法利(li)用視覺、嗅覺、觸覺。某些時(shi)候，損壞了的(de)元件會變色、起(qi)泡或(huo)出現燒焦(jiao)的(de)斑點(dian)；燒壞的(de)器件會產(chan)生一(yi)些特殊的(de)氣味；短路的(de)芯片(pian)會發(fa)燙；用肉眼也能觀察到虛焊或(huo)脫(tuo)焊處。方法(fa)七：騎肩法(fa)騎肩法也稱并聯法。把一塊好(hao)的IC芯(xin)片安(an)在(zai)要檢查(cha)的芯(xin)片之上(shang)，或者把好(hao)的元器件(jian)（電阻電容(rong)、二(er)極管、三極管等(deng)）與要檢查(cha)的元器件(jian)并聯，保持良好(hao)接(jie)觸，如果故障出自于器件(jian)內部開(kai)路或接(jie)觸不(bu)良等(deng)原因(yin)，則(ze)采(cai)用這(zhe)種方法可以(yi)排(pai)除。步入式(shi)高低溫試驗箱儀表的檢(jian)修方法方法八：替換法1）元(yuan)件替換(huan)法(fa)：要求有兩臺同型號(hao)的(de)儀器或有足夠的(de)備件。制作高低溫試驗(yan)箱將一個好(hao)的(de)備品與故障機上的(de)同一元(yuan)器件進行替換(huan)，看(kan)故障是(shi)否(fou)消除。2） 功能(neng)替(ti)(ti)換(huan)法：當故障(zhang)機(ji)的(de)某一部位的(de)功能(neng)喪失后，由于一時無法找(zhao)到(dao)(dao)原(yuan)備品備件，可以根據(ju)該(gai)部位的(de)電(dian)路原(yuan)理，采購或自制(zhi)電(dian)氣參數功能(neng)相同或接(jie)近部件進行替(ti)(ti)換(huan)，同樣(yang)可以達(da)到(dao)(dao)修(xiu)復(fu)儀(yi)器的(de)目的(de)。方法(fa)九(jiu)：升(sheng)降溫法(fa)有(you)時(shi)(shi)，儀表工作較長時(shi)(shi)間，或在夏季工作環境溫度較高(gao)時(shi)(shi)就會出現(xian)故(gu)障，關(guan)機(ji)檢(jian)查正(zheng)常(chang)，停一段時(shi)(shi)間再(zai)開機(ji)又(you)(you)正(zheng)常(chang)，過一會兒又(you)(you)出現(xian)故(gu)障。這種現(xian)象是由于個別IC或元(yuan)器件性(xing)能(neng)差(cha)，高(gao)溫特性(xing)參數達(da)不到指標要(yao)求所致。為了找出故(gu)障原(yuan)因金屬加(jia)工網，可采用升降溫法。所謂降溫，就是在故障出現時，用棉纖將濕布在可能出故障(zhang)的部(bu)位抹(mo)擦，使(shi)其降(jiang)溫，觀察故障(zhang)是(shi)否消除。制作高(gao)低溫試驗箱(xiang)所(suo)謂升溫就(jiu)是(shi)人為(wei)地將(jiang)環境溫度升高(gao)，比如用電烙鐵放近有疑點的部(bu)位（注(zhu)意(yi)切不可將(jiang)溫度升得太(tai)高(gao)以致損壞正常器件）試看故障(zhang)是(shi)否出現。步入式高(gao)低溫試驗(yan)箱(xiang)儀表的檢修方法方法十：排除法所謂的(de)(de)排除法是(shi)通過拔插機(ji)內一(yi)些插件板、器件來判斷故障原因(yin)的(de)(de)方法。當拔除某(mou)一(yi)插件板或器件后儀表恢復正(zheng)常，就說明故障發生在(zai)那里，此(ci)方法也是(shi)技術(shu)人員應該掌(zhang)握并(bing)熟練運用的(de)(de)方法。